┌───┬──────────────────────┬─────────────────────────────────────┐
│ N │ Наименование │ Назначение, область применения │
│п/п│ аппаратуры │ аппаратуры │
├───┼──────────────────────┼─────────────────────────────────────┤
│1 │Миллитесламетр Ф-1356 │Измерение индукции переменного │
│ │ │магнитного поля │
├───┼──────────────────────┼─────────────────────────────────────┤
│2 │Измеритель магнитной │Измерение индукции постоянного │
│ │индукции ИМИ-93 │магнитного поля │
├───┼──────────────────────┼─────────────────────────────────────┤
│3 │Магнитометр │Измерение напряженности переменных, │
│ │дефектоскопический │постоянных и импульсных магнитных │
│ │МФ-23И │полей с целью оценки и контроля │
│ │ │заданных режимов намагничивания │
├───┼──────────────────────┼─────────────────────────────────────┤
│4 │Прибор МФ-24ФМ │Контроль размагниченности объектов │
│ │ │после проведения магнитопорошкового │
│ │ │контроля │
├───┼──────────────────────┼─────────────────────────────────────┤
│5 │Прибор ПКМС-2М │Количественная оценка чувствитель- │
│ │ │ности магнитных порошков и суспензий │
├───┼──────────────────────┼─────────────────────────────────────┤
│6 │Прибор для проверки │Контроль качества магнитных порошков │
│ │качества порошков и │и суспензий, применяемых при │
│ │суспензий МФ-10СП │магнитопорошковом контроле │
├───┼──────────────────────┼─────────────────────────────────────┤
│7 │Люксметр Ю-116 │Измерение освещенности │
│ │ │контролируемой поверхности │
├───┼──────────────────────┼─────────────────────────────────────┤
│8 │Ультрафиолетовый │Облучение контролируемой поверхности │
│ │облучатель КД-З-ЗЛ │детали при использовании люминесцент-│
│ │ │ных магнитных индикаторов │
├───┼──────────────────────┼─────────────────────────────────────┤
│9 │Облучатель ультрафио- │Облучение контролируемой поверхности │
│ │летовый малогабаритный│детали при использовании люминесцент-│
│ │УФО-3-500 │ных магнитных индикаторов │
├───┼──────────────────────┼─────────────────────────────────────┤
│10 │Измеритель ультрафио- │Измерение ультрафиолетовой облучен- │
│ │летовой облученности │ности контролируемой поверхности │
├───┼──────────────────────┼─────────────────────────────────────┤
│11 │Вискозиметры капилляр-│Определение кинематической или │
│ │ные стеклянные ВПЖ-2, │условной вязкости дисперсионной среды│
│ │ВПЖ-4, Пинкевича или │суспензий для магнитопорошкового │
│ │ВЗ-1, ВЗ-4 или ВЗ-246 │контроля │
├───┼──────────────────────┼─────────────────────────────────────┤
│12 │Набор луп 2, 4 и │Осмотр объектов контроля с целью │
│ │7-кратного увеличения │поиска дефектов. Анализ характера │
│ │ │осаждений магнитного порошка │
├───┼──────────────────────┼─────────────────────────────────────┤
│13 │Бинокулярный стерео- │Осмотр малогабаритных деталей с │
│ │скопический микроскоп,│целью расшифровки результатов │
│ │например, типа МБС-2, │контроля │
│ │МБС-10, МСП-1 │ │
├───┼──────────────────────┼─────────────────────────────────────┤
│14 │Контрольные образцы │Проверка работоспособности │
│ │для магнитопорошкового│магнитопорошковых дефектоскопов и │
│ │контроля │магнитных индикаторов │
└───┴──────────────────────┴─────────────────────────────────────┘